多功能电压击穿强度测试仪

多功能电压击穿强度测试仪基本概念：
1、电击穿：
高分子材料在一定电压范围内是绝缘体，但随着施加电压的升高，性能会逐渐下降。当电压升到一定值时变成局部导电，此时称材料被击穿。
2、介电强度（击穿强度）：
指造成聚合物材料介电破坏时所需的最大电压，一般以单位厚度的试样被击穿时的电压数表示。    
                             E=V/d
式中：E——介电强度，KV/mm
         V击穿——击穿电压，KV
         d——试样厚度，mm
二、基本原理：
通常介电强度越高，材料的绝缘质量越好。
塑料击穿的主要表现：
绝缘性能破坏，击穿点上产生电弧，材料穿孔熔化、变焦、烧毁等。
固体介质中，总有一些自由电子存在，在外电场作用下被加速而撞击中性原子，致使原子电离，最终造成材料击穿。
高分子的击穿通常与温度有关：
当低于某一温度时，界电强度与温度无关——电击穿
高于这一温度时，随温度升高而界电强度降低。
高分子材料在发生电击穿时，常伴随有热击穿。
热击穿，介电强度随温度增加而迅速降低。
塑料击穿的特点：
塑料材料的击穿过程，通常伴随着热击穿与电击穿，很难说界定是某种击穿。
一般来说，工作温度高，散热条件差，介质电导及损耗大的材料，发生热击穿的几率高。
热击穿的原理：
塑料介质在电场中发生的热量大于它能散发的热量，使其内部温度不断升高。
温度升高导致其电阻下降，流经试样电流增大，产生的热量更多，如此循环不已，致使介质转变为另一种聚集态，失去了耐电压能力、材料被破坏。
热击穿的外部表现：
介电强度随温度升高而迅速下降；
热击穿与电压作用的长短有关；
与电场畸变及周围介质的电性能关系不大；
击穿点多发生在电极内部。
三、试验方法：
短时法 （连续均匀升压）
  施加于试样的电压从零开始，以均匀速率逐渐增加到材料发生介电破坏。
低速升压法 （逐级升压）
  将预测击穿电压值的一半作为起始电压，然后以均匀速率增加电压直到发生击穿。
  每级升压值大约为V击穿的5~10%。测试的试样厚度一般是1.59mm
四、介电强度试验方法有：
GB/T1408.1-2016；
IEC60243-1：2013
GB/T1408.2-2016；
IEC60243-2：2013
ASTM D149；
GB/T1695-2005；

五、试样制备与处理：
根据测试产品规格及测试要求，采用模塑成型或机械加工方法制备试样。与电极接触的试样两表面要平行，并且应尽可能平整光滑，试样厚度一般不大于3mm，当厚度大于3mm时，单面成（3±0.2）mm，未加工面应与高压电极接触。
        注意：不同厚度的试样其结果不能进行比较。
对于垂直于材料表面的试验，要求试样有足够大的面积以防止试验过程中发生闪络。
（注：闪络：试样和电极周围的气体或液体煤质承受电应力作用时，其绝缘性能损失，由此引起的试验回路电流促使相应的回路断路器动作）
试样的几何形状见下表，每组试样数量不得少于3个：

试样预处理应遵循测试材料的产品规格进行。如果没有特殊要求，则试样在温度为（23±2）℃，相对湿度为（50±5）％的条件下不少于24h。