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当前位置:首页  >  产品中心  >  体积表面电阻率测定仪  >  表面电阻率测定仪  >  IEC 62631多功能体积表面电阻测定仪

多功能体积表面电阻测定仪

简要描述:多功能体积表面电阻测定仪高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。最基本的是电导性能和介电性能,前者包括电导(电导率γ,电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb);后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tgδ)。共四个基本参数。

  • 更新时间:2022-12-29
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详细介绍

多功能体积表面电阻测定仪简介:
      高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。最基本的是电导性能和介电性能,前者包括电导(电导率γ,电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb);后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tgδ)。共四个基本参数。

    体积电阻率及表面电阻测定仪种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。就导电性而言,高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体,如表1所示。多数聚合物材料具有的电绝缘性能,其电阻率高、介电损耗小,电击穿强度高,加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能,使它比其他绝缘材料具有更大实用价值,已成为电气工业的材料。高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响,为满足工作条件下对绝缘电阻的要求,必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
表1  各种材料的电阻率范围
材料电阻率(Ω·m)材料电阻率(Ω·m)
超导体导体≤10-810-8~10-5半导体 绝缘体10-5~107
107~1018

4.3多功能体积表面电阻测定仪注意事项
(1)试样与电极应加以屏蔽(将屏蔽箱合上盖子),否则,由于外来电磁干扰而产生误差,甚至因指针的不稳定而无法读数。
(2)测试时,人体不可接触红色接线柱,不可取试样,因为此时“放电-测试"开关处在“测试位置",该接线柱与电极上都有测试电压,危险!!
(3)在进行体积电阻和表面电阻测量时,应先测体积电阻再测表面电阻,反之由于材料被极化而影响体积电阻。当材料连续多次测量后容易产生极化,会使测量工作无法进行下去,出现指针反偏等异常现象,这时须停止对这种材料测试,置于净处8h-10h后再测量或者放在无水酒精内清洗,烘干,等冷却后再进行测量
(4)经过处理的试样及测量端的绝缘部分绝不能被脏物污染,以保证实验数据的可靠性。
(5)若发现指针很快打出满刻度,应立即将输入短路开关置于“短路",测试电压控制开关置于“关",等查明原因并排除故障后再进行测量。
(6)当输入短路开关置于测量后,如果发现表头无读数,或指示很少,可将倍率逐步升高。
(7)若要重复测量时,应将试样上的残余电荷全部放掉方能进行。
数据处理
体积电阻率ρv
ρv=Rv(A/h),
A=(π/4)·d22=(π/4)(d1+2g)2         (3)
式中,ρv ——体积电阻率(Ω·m),
Rv ——测得的试样体积电阻(Ω),
A ——测量电极的有效面积(m2),
d1 ——测量电极直径(m),
h ——绝缘材料试样的厚度(m),
g ——测量电极与保护电极间隙宽度(m),
表面电阻率ρv
ρs=Rs(2π)/㏑(d2/d1)          (4)
式中,ρv ——表面电阻率(Ω),
Rs ——试样的表面电阻(Ω),
d2 ——保护电极的内径(m),
d1 ——测量电极直径(m)。
需要的数据
d1 = 5 cm
d2 = 5.4 cm
h = 0.2 cm
g = 0.2 cm
电阻率、体积电阻率、表面电阻率的区别与测定方法

什么是电阻率?

电阻跟导体的材料、横截面积、长度有关。

导体的电阻与两端的电压以及通过导体的电流无关。

导体电阻跟它长度成正比,跟它的横截面积成反比.

(1)定义或解释

电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。用某种材料制成的长为1米、横截面积为1mm2米。的导体的电阻,在数值上等于这种材料的、电阻率。

(2)单位

在国际单位制中,电阻率的单位是欧姆·米。一般常用的单位是欧姆·毫米2/米。

(3)说明

①电阻率ρ不仅和导体的材料有关,还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内,几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化,即ρ=ρo(1+at)。式中t是摄氏温度,ρo是O℃时的电阻率,a是电阻率温度系数。

②由于电阻率随温度改变而改变,所以对于某些电器的电阻,必须说明它们所处的物理状态。如一个220 V

100 W电灯灯丝的电阻,通电时是484欧姆,未通电时只有40欧姆左右。

③电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性,电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。

什么是体积电阻率?

体积电阻率,是材料每单位体积对电流的阻抗,用来表征材料的电性质。通常体积电阻率越高,材料用做电绝缘部件的效能就越高。通常所说的电阻率即为体积电阻率。

,式中,h是试样的厚度(即两极之间的距离);S是电极的面积,ρv的单位是Ω·m(欧姆·米)。

材料的导电性是由于物质内部存在传递电流的自由电荷,这些自由电荷通常称为载流子,他们可以是电子、空穴、也可以是正负离子。在弱电场作用下,材料的载流子发生迁移引起导电。材料的导电性能通常用与尺寸无关的电阻率或电导率表示,体积电阻率是材料导电性的一种表示方式。

简言之,在绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商,即单位体积内的体积电阻.

什么是表面电阻率?

表面电阻:在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商;访伸展流主要为流过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分.在两电极间可能形成的极化忽略不计.

表面电阻率:在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻.

材料说明

A、通常,绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘,固体绝缘材料还起机械支撑作用.一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻,并具有合适的机械、化学和耐热性能.

B、体积电阻班组可作为选择绝缘材料的一个参数,电阻率随温度和湿度的京戏化而显著变化.体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀,或都用来检测那些能影响材料质量而又不能作其他方法检测到的导电杂质.

C、当直流电压加到与试样接触的两电极间时,通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值.电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致.对于体积电阻小于10的10Ω.m

的材料,其稳定状态通常在1min内达到.因此,要经过这个电化时间后测定电阻.对于电阻率较高的材料,电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天,因此需要用较长的电化时间.如果需要的话,可用体积电阻率与关系来描述材料的特性 .

D、由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去,因些近似地测量表面电阻,测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度.所以,表面电阻率不是表面材料本身特性的参数,而是一个有关材料表面污染特性的参数.

当表面电阻较高时,它常随时间以不规则的方式变化.测量表面电阻通常都规定11min的电化时间.

电阻率的测量方法和精度

1、方法:测量高电阻常用的方法是直接法和比较法.

直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样电阻.直接法主要有检流计法和直流放大法(高阻计法)比较法主要有检流计法和电桥法.

2、精度:对于大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±20%的范围内;对于不大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±10%的范围内.

3、保护:测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能.试样的测试误差可以由下列原因产生:

①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道.通常不知道它的大小,并且有漂移的特点;

②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联.

使用高电阻绝缘奢侈可以改善测量误差,但这种方法将使仪器昂贵而又笨重,而且对高阻值试样的测量仍不能得到满意的结果.较为满意的改进方法是使用保护技术,即在所有主要的绝缘部位安置保护导体,通过它截信了各种可能引起误差的杂散电流;将这些导电联接在一起组成保护系统,并与测量端形成一个三端网络.当线路连接恰当时,所有外来寄生电压的杂散电流被子保护系统分流到测量电路以下,这就可大大减少误差的可能性.

在系统的保护端和被保护端之间存在的电解电势,接触电势或热电运势较小时,均能补偿掉,使它们在测量中不引起显著误差.

在电流测量中,由于被保护端和保护端之间的电阻与电流测量装置并联可能产生误差,因此前者至少应为电流测量装置输入电阻的10倍,最好为100倍.在电桥法测量中,保护端与测量端带有大致相同的电位,但电桥中的一个标准电阻与不保护端和保护端之间的电阻并联,因此,后者至少为标准电阻的10倍,最好20倍.

在开始测试前先断开电源和试样的连线进行一次测量,此时设备应在它的灵敏度许可范围内指示无穷大的电阻.可用一些已知值的标准电阻业检查设备运行是否良好.

体积电阻率

为了测业体积电阻率,使用的保护系统应能抵消由表面电流引起的误差.对表面泄漏可忽略的试样,在测量体积电阻时可以去掉保护.

在被保护电极与保护电极之间的试样表面上的间隙宽度要均匀,并且在表面泄漏不致引起测量误差的条件下间隙应尽可能窄,实际使用时最小为1MM.

表面电阻率为测定表面电阻率,使用的保护系统应尽可能地抵消体积电阻引起的影响。




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